
產(chǎn)品簡介
                BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品介紹
BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標(biāo)
粒徑檢測
| 原理 | 動態(tài)光散射技術(shù)  | 
粒徑范圍  | 0.3 nm – 15 μm  | 
樣品量  | 3 μL – 1 mL  | 
檢測角度  | 90 ° + 12°  | 
分析算法  | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS  | 
Zeta電位測試
| 原理 | 相位分析光散射技術(shù)  | 
檢測角度  | 12°  | 
Zeta范圍  | 無實際限制  | 
電泳遷移率范圍  | >±20 μ.cm/V.s  | 
電導(dǎo)率范圍  | 0 - 260 mS/cm  | 
| Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 110 μm  | 
分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da  | 
微流變測試
| 頻率范圍 | 0.2 – 1.3 x 107 rad/s  | 
測試能力  | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>  | 
折光率和粘度測試
| 粘度范圍 | 0.01 cp – 100 cp  | 
折光率范圍  | 1.3-1.6  | 
趨勢測試
| 時間和溫度 | 
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 110°C  | 
冷凝控制  | 干燥空氣或者氮氣  | 
標(biāo)準(zhǔn)激光光源  | 50 mW 高性能固體激光器, 671 nm  | 
相關(guān)器  | *快25 ns采樣,*多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍  | 
檢測器  | APD (高性能雪崩光電二極管)  | 
光強控制  | 0.0001% - 100%,手動或者自動  | 
軟件
中文和英文  | 符合21CFR Part 11  | 
檢測參數(shù)
●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布
●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布
●分子量
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●流體力學(xué)直徑 DH
●顆粒間相互作用力因子 kD
●溶液粘度
檢測技術(shù)
●動態(tài)光散射
●電泳光散射
●相位分析光散射
●靜態(tài)光散射

相關(guān)技術(shù)

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